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Microscopia a scansione elettronica (SEM) REVIEW

Che cos’è un microscopio elettronico a scansione SEM e a cosa serve?

In questa Review approfondiremo concetti di microspia e le sue applicazioni

Il microscopio elettronico a scansione SEM (Scanning Electron Microscope), attraverso una tecnica non distruttiva, consente di eseguire indagini morfologiche delle superfici. 

Individuando gli elementi chimici presenti sulla superficie di un materiale è possibile fornire molteplici indicazioni riguardanti, ad esempio: cause di rottura, corrosione, elementi inquinanti etc..

Con il SEM si possono effettuare, inoltre, analisi riguardanti: microstrutture, nanomateriali, trattamenti superficiali (nichelature, cromature, PVD, CLD etc.), avere indicazioni su trattamenti di tempra e di rinvenimento, indagini balistiche, reperti storici, tessuti organici, fibre e tessuti, fibre d’amianto.

E’ lo strumento principe per indagini di Failure Analysis: il forte ingrandimento e la sonda per l’analisi chimica permettono di individuare zone di innesco della rottura, linee di propagazione della cricca ed aree con morfologia duttile o fragile.

Come funziona un Microscopio Elettronico a Scansione?

II microscopio elettronico è costituito da un cannone ad elettroni che emette un fascio di elettroni primari, da una serie di lenti elettroniche che concentrano gli elettroni sul campione e da un sistema per scansione che mantiene gli elettroni sull’asse ottico del sistema. Dopo aver incontrato il campione, gli elettroni lo attraversano generando un fascio definito “fascio degli elettroni secondari”. Questi ultimi, sono raccolti da un rilevatore e proiettati su uno schermo fluorescente o su una pellicola o lastra fotografica su cui si raccolgono le immagini. Allo scopo di evitare la diffusione del fascio di elettroni, nel sistema è mantenuto un vuoto spinto.

SEM

Cosa possiamo osservare e analizzare noi del Gruppo Bucciarelli?

Il nostro laboratorio è dotato di apparecchiature in grado di soddisfare svariate esigenze di analisi chimica e analisi microbiologica. Per questa tecnica in particolare, il laboratorio dispone di microscopio elettronico a scansione (SEM) Phenom XL. Lo strumento può lavorare fino a 20.5 kV ed in tal senso è conforme alla normativa vigente per l’analisi dell’amianto – D.M. 6-9-1994.

Il Phenom XL permette di:

  • – Effettuare osservazioni morfologiche di campioni di vario interesse
  • – Compiere analisi qualitative ed elaborazioni di spettri a raggi X di campioni
  • – Analizzare difettosità, contaminazione delle superfici, composizioni elementari e nano particelle
Microscopio SEM Phenom XL

In particolare, per il Gruppo Bucciarelli il microscopio Phenom XL rappresenta lo strumento ideale per effettuare, fra le altre, analisi finalizzate alla:

– Determinazione quali/quantitativa di fibre di amianto aerodisperse 

– Verifica della assenza o presenza di amianto e determinazione della sua concentrazione nei campioni massivi (acqua, suolo e rifiuti)

– Ricerca qualitativa e quantitativa di FAV (Fibre Artificiali Vetrose) che trovano impiego in numerosi settori: edile, tessile, elettrico, compositi

– Riconoscimento minerali e gemme preziose

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